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抗表皮基底膜抗体

http://www.69jk.cn 2010年10月28日 来源:互联网
抗表皮基底膜抗体介绍:
  
  抗表皮基底膜抗体测定是诊断类天疱疮的的特异性标志抗体。用间接免疫荧光检查,诊断类天疱疮患者血清中有抗表皮基底膜抗体,主要是IgG。
  间接免疫荧光法实验原理:将荧光素标记在相应的抗体上,直接与相应抗原反应。   第一步,用未知未标记的抗体(待检标本)加到已知抗原标本上,在湿盒中37℃保温30min,使抗原抗体充分结合,然后洗涤,除去未结合的抗体。   第二步,加上荧光标记的抗球蛋白抗体或抗IgG、IgM抗体。如果第一步发生了抗原抗体反应,标记的抗球蛋白抗体就会和已结合抗原的抗体进一步结合,从而可鉴定未知抗体。
抗表皮基底膜抗体正常值:
  
  IIF法(间接免疫荧光法):阴性。

抗表皮基底膜抗体临床意义:
  
  阳性:
  大疱性类天疱疮(阳性率70%),妊娠疱疮(阳性率20-25%,使用补体固定的间接免疫荧光技术,阳性率可提高到90%),瘢痕性 类天疱疮(阳性率10-30%,多为低滴度)。   注意:抗体滴度与疾病的活动性不相关。获得性大疱性表皮松懈症及大疱性系统性红斑狼疮者也可为阳性。

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